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簡要描述：MHY-29256型率場效應(yīng)管測試儀，是種新穎的數(shù)字顯示式率場效應(yīng)管參數(shù)測試裝置，可用于標(biāo)稱 電約在2-85A，率在300W以內(nèi)的N溝導(dǎo)率場效應(yīng)管主要參數(shù)的測試。它可以準(zhǔn)確測量擊穿電壓 VDSS、柵開啟電壓VGS（th）和放大性參數(shù)跨導(dǎo)Gfs
產(chǎn)品型號：MHY-29256廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-07-04訪 問 量：760產(chǎn)品分類
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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場效應(yīng)管測試儀/MOS管測試儀 型號：MHY-29256
、MHY-29256場效應(yīng)管測試儀/MOS管測試儀概述
MHY-29256型率，是種新穎的數(shù)字顯示式率場效應(yīng)管參數(shù)測試裝置，可用于標(biāo)稱 電約在2-85A，率在300W以內(nèi)的N溝導(dǎo)率場效應(yīng)管主要參數(shù)的測試。它可以準(zhǔn)確測量擊穿電壓 VDSS、柵開啟電壓VGS（th）和放大性參數(shù)跨導(dǎo)Gfs，尤其是跨導(dǎo)Gfs的測試電可以達(dá)到50A，由于采 用脈沖電測試法，即使在大電測試時(shí)也不會對被測器件成何損壞，更可以在大電狀態(tài)下對場效 應(yīng)管行參數(shù)*性的測試（配對）；儀器可用于同等電等的IGBT參數(shù)的測量；儀器還是臺性 能十分的電子元器件耐壓測試裝置，其測試耐壓時(shí)的漏電有1mA、250uA、25uA 三擋可以選擇。儀器 主要用于率場效應(yīng)管和IGBT的質(zhì)量檢驗(yàn)、參數(shù)的配對及其它電子元器件的耐壓測試之用。儀器分N溝導(dǎo)型 測試儀和P溝導(dǎo)型測試儀兩種。儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準(zhǔn)確、操作簡單、使用安方便。
二、主要性能
1、擊穿電壓VDSS測量范圍： 0—1999V， 度：≤2.5% 。
2、IDSS可分三擋選擇： 1mA、250uA、25uA 。
3、柵開啟電壓VGS（th） 測量范圍： 0—10V。 度：≤5% 。
4、Gfs跨導(dǎo)測試電Idm：不小于1—50 A連續(xù)可調(diào)， 度：≤10 % 。
5、Gfs跨導(dǎo)測試范圍：1—100 。
三、主要測試能
1、率場效應(yīng)管的擊穿電壓VDSS、柵開啟電壓VGS(th)、跨導(dǎo)Gfs的測試。
2、IGBT的擊穿電壓V(BR)ces、柵開啟電壓VGE(th)、跨導(dǎo)Gfs的測試。
3、率場效應(yīng)管和IGBT在50A以下的意電狀態(tài)下*性的測試，可用于配對。
4、對其它更大電和率的場效應(yīng)管及IGBT的測試：（見下面介紹）。
5、各類晶體三管、二管、穩(wěn)壓管擊穿電壓的測試。
6、壓敏電阻電壓的測試等。
四、測試盒與測試線
1、利用測試盒可以方便的測試TO-126、TO-220、TOP-3等類似封裝的率場效應(yīng)管和IGBT。
2、利用測試線可以測量其它金屬類、模塊類等封裝形式的率場效應(yīng)管和IGBT。
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